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X射線熒光測厚儀可用于測量一般工件、PCB及半導體產品的各鍍層厚度全自動XYZ樣品臺；雷射自動對焦、自動對位；溫度補償；十字線自動調整五種report format可供選擇

金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及半導體產品的各鍍層厚度全自動XYZ樣品臺。

X射線測厚儀（XRF-2000）可用于測量一般工件、PCB及半導體產品的各鍍層厚度全自動XYZ樣品臺，雷射自動對焦、自動對位；溫度補償；有競爭力的價格；五個準直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm） XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*，而且價錢*，同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。